Nomor Standar SNI ISO 16526-1:2013
Judul Standar Uji tak rusak - Pengukuran dan evaluasi tegangan tabung sinar-X - Bagian 1: Metode pembagi tegangan (ISO 16526-1:2011, IDT)
Status Standar Berlaku
Komite Teknis 19-01 Uji Tak Rusak
ICS 19.100 Pengujian tanpa merusak;
SK Penetapan 225/KEP/BSN/9/2013
Tanggal Penetapan 12-September-2013
Jumlah Halaman 7
Format CETAK
Bahasa Bahasa Indonesia
Harga Rp 15.000

* Kami sarankan memilih format PDF (jika tersedia) untuk kemudahan, kenyamanan, dan kecepatan layanan pemesanan dokumen SNI.

Masukan Keranjang

SNI Terkait

Lihat Semua

SNI 18-6933.1-2002

Uji tak rusak - Film radiografi untuk industri - Bagian 1: Klasifikasi sistem film radi...

Status : Berlaku
Harga : Rp 15.000
Lihat Detail Masukan Keranjang

SNI ISO 9934-3:2012

Uji tak rusak - Uji partikel magnetik - Bagian 3: Peralatan

Status : Berlaku
Harga : Rp 45.000
Lihat Detail Masukan Keranjang

SNI ISO 16823:2014

Uji tak rusak - Uji ultrasonik - Teknik transmisi (ISO 16823:2012, IDT)

Status : Berlaku
Harga : Rp 30.000
Lihat Detail Masukan Keranjang

Link Terkait

Polling

Layanan PESTA BSN yang paling sering Anda gunakan?

 Pesan SNI/Non-SNI

 Konsultasi SPK

 Lihat koleksi

 Lihat Layanan

Total Vote : 1174

Kontak

Badan Standardisasi Nasional (BSN)
Layanan Informasi Terpadu BSN (LITe). Gedung BPPT I / Graha Maritim Lantai Dasar. Jl. MH. Thamrin No. 8, Menteng, Jakarta Pusat, 10340

Telp/Fax : 021-3917300/021-3927527/ 081317761112 (Whatsapp Layanan)

dokinfo@bsn.go.id